مقاله بررسی اثر افزایش دما بر ویسکوزیته سل V2O5 و تاثیر آن بر خصوصیات اپتیکی و مرفولوژیکی لایههای
مقاله بررسی اثر افزایش دما بر ویسکوزیته سل V2O5 و تاثیر آن بر خصوصیات اپتیکی و مرفولوژیکی لایههای نازک V2O5 تهیه شده به روش سل – ژل فایل ورد (word) دارای 4 صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله بررسی اثر افزایش دما بر ویسکوزیته سل V2O5 و تاثیر آن بر خصوصیات اپتیکی و مرفولوژیکی لایههای نازک V2O5 تهیه شده به روش سل – ژل فایل ورد (word) کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
این پروژه توسط مرکز مرکز پروژه های دانشجویی آماده و تنظیم شده است
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله بررسی اثر افزایش دما بر ویسکوزیته سل V2O5 و تاثیر آن بر خصوصیات اپتیکی و مرفولوژیکی لایههای نازک V2O5 تهیه شده به روش سل – ژل فایل ورد (word) ،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله بررسی اثر افزایش دما بر ویسکوزیته سل V2O5 و تاثیر آن بر خصوصیات اپتیکی و مرفولوژیکی لایههای نازک V2O5 تهیه شده به روش سل – ژل فایل ورد (word) :
سال انتشار: 1386
محل انتشار: کنفرانس فیزیک ایران 1386
تعداد صفحات: 4
نویسنده(ها):
رضا شموسی محمدزاده – گروه فیزیک دانشکده علوم، دانشگاه گیلان
فرهاد اسمعیلی قدسی – گروه فیزیک دانشکده علوم، دانشگاه گیلان
عادل شجاعی – مربی دانشگاه آزاد اسلامی واحد بهبهان
چکیده:
در این تحقیق لایه های نازک اکسید وانادیوم ) ) V2O5 با استفاده از روش سل – ژل از طریق انحلال پودر وانادیوم پنتاکسید ) ) V2O5 در محلول پراکسید هیدروژن پانزده درصد ) ) H2O2 %15 تهیه شدند . برای این کار 3 gr پودر ) ) V2O5 را در 300 ml پراکسید هیدروژن حل کردیم و بـا تقـسیم آن بـه سـه قـسمت در دماهـای 60 ، 75 و 90 0 C تحت عملیات گرمایش قرار دادیم تا سل های مناسب تهیه شدند . به منظور بررسی خصوصیات اپتیکی از این سل ها جهت تهیه پوشش دهـی بـر بـسترهای d, , ( تحت عملیات گرمایش قرار گرفتند . تعیین ثابتهای اپتیکی لایه هـا 150 0 C شیشه ای با استفاده از تکنیک غوطه وری استفاده شد و در نهایت لایه ها در دمای ( با استفاده از روش بهینه سازی و تنها با استفاده از طیف تراگسیلی لایهها صورت گرفت . نتایج بدست آمده نشان میدهد با افزایش ویسکوزیته، ضریب جذب n, Eg2/3 eV و ضخامت لایهها افزایش یافته و ضریب شکست لایهها کاهش مییابد . گاف نواری انرژی بدست آمده برای لایههای نازک اکسید وانادیوم در این تحقیـق محاسبه شده است . نتایج میکروسکوپ پروبی روبشی نشان می دهد افزایش ویسکوزیته باعث افزایش پارامترهای زبری لایه می شود . نقش پراش پرتو ایکس ( XRD (
نشان میدهد ساختار پودر تهیه شده در دمای 450 0 C پلی کریستالی است .
